키슬리, 반도체 시험 소프트웨어 업그레이드 발표
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키슬리 인스트루먼츠는 KTE (Keithley Test Environment) 반도체 시험 소프트웨어의 업그레이드 버전을 발표했다. KTE Version 5.3은 현재 속도가 가장 빠르고 경제적인 공정 제어 감시 솔루션인 S530 파라메트릭 시험 시스템과 함께 동작하도록 설계되었다.
KTE는 키슬리의 기존 파라메트릭 시험 시스템을 통해 전세계 수백 개의 반도체 팹에서 사용되어온 강력한 시험 개발 및 실행 소프트웨어 플랫폼이다. 업계에서 입증된 이러한 동일 소프트웨어 플랫폼이 키슬리 S530 시험 시스템에서도 적용됨에 따라 가장 까다로운 생산 환경에서도 유연한 시험 계획 개발과 빠른 속도의 시험 실행이 가능해졌다. 기존 측정 루틴들이 S530으로 쉽게 이식될 수 있고, 기존 테스터와 신규 S530 시스템간 동일한 시험 계획이 공유될 수 있으므로 특히 기존 키슬리 S400과 S600 시리즈 파라메트릭 테스터 사용자들은 S530의 KTE 버전 5.3 혜택을 누릴 수 있다.
S530으로 KTE 시험 개발과 실행 환경을 확장시키면 30년에 걸친 키슬리의 파라메트릭 시험 코드 개발 현장 경험과 시장에서 가용한 가장 빠른 최첨단 시스템 하드웨어를 동시에 누릴 수 있다. S530 계측기는 공정 제어 감시 같은 파라메트릭 시험 애플리케이션이 요구하는 빠르고 광범위한 측정 범위를 제공한다.
